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    Titel :

    Model Results on the Radiation-Hardness of Submicron Electronics in Aeronautical Systems



    Kongress:

    US Air Force T&E Days Conference ; 2010 ; Nashville, TN



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2010


    Format / Umfang :

    7 pages


    Anmerkungen:

    Includes bibliographical references and index



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Model Results on the Radiation-Hardness of Submicron Electronics in Aeronautical Systems

    Atkinson, William / Seidler, William / Matzkind, Courtney | AIAA | 2010


    Nuclear Hardness Assurance for Aeronautical Systems

    Ferry, James M. / Patrick, Rayford P. | SAE Technical Papers | 1980


    ELECTRONICS IN AERONAUTICAL RESEARCH

    White, J. A. | NTRS | 1957


    Electronics and aeronautical research

    Engineering Index Backfile | 1947


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