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    Titel :

    Robustness Validation - An improved Qualification Procedure for Semiconductor Devices



    Kongress:

    International Congress; 13th, Electronic systems for vehicles; Elektronik im Kraftfahrzeug ; 2007 ; Baden-Baden, Germany



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2007


    Format / Umfang :

    12 pages


    Anmerkungen:

    Papers in German and English, with German and English abstracts; Also held on CD-ROM




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch