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    Titel :

    500oC Electronics for Harsh Environments


    Beteiligte:
    Sadwick, L. P. (Autor:in) / Hwu, R. J. (Autor:in) / Chern, J. H. (Autor:in) / Lin, C. H. (Autor:in) / Del Castillo, L. (Autor:in) / Johnson, T. (Autor:in) / IEEE

    Kongress:

    IEEE aerospace conference ; 2005 ; Big Sky, MT



    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    11 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 05TH8788




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





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