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    Titel :

    The Photothermal Method for Testing of Parameters of Thin-Film Coatings


    Beteiligte:
    Petrovska, H. (Autor:in) / Demkovych, I. (Autor:in) / Bobitski, Y. (Autor:in) / IEEE

    Kongress:

    International conference; 2ND, Advanced optoelectronics and lasers:; CAOL 2005 ; 2005 ; Yalta, Ukraine



    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no: 05TH8809



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    The photothermal method for testing of parameters of thin-film coatings

    Petrovska, H. / Demkovych, I. / Bobitski, Y. | IEEE | 2005




    Thin film coatings with variable emittance

    Larsson, A.L. / Niklasson, G. / Stenmark, L. | Tema Archiv | 1999


    Photothermal Absorption Measurement on Optical Thin Films

    Welsch, E. | British Library Online Contents | 1997