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    Titel :

    Next Generation Testing Tools for Embedded Applications: Automatically Detect Run-Time Errors at Compilation Time


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference; 23RD, Digital avionics systems:; Avionics systems: transitioning to the next generation ; 2004 ; Salt Lake City, UT



    Erscheinungsdatum :

    2004-01-01


    Format / Umfang :

    6B4



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Next generation testing tools for embedded automotive applications

    Deutsch,A. / PolySpace Technologies,US | Kraftfahrwesen | 2004



    2004-01-0716 Next Generation Testing Tools for Embedded Automotive Applications

    Deutsch, A. / SAE | British Library Conference Proceedings | 2004



    GNU Based Compilation System for Space Embedded Applications

    Blondin, J. P. / Martignano, M. / Eurospace | British Library Conference Proceedings | 1998