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    Titel :

    Direct Measurement of the Diffraction Relation in Waveguide Arrays



    Kongress:

    Annual Meeting; 17TH, IEEE Lasers & Electro-optics Society:; LEOS 2004 ; 2004 ; Rio Grande, Puerto Rico



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 04CH37581




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Direct measurement of the diffraction relation in waveguide arrays

    Schiek, R. / Iwanow, R. / Stegeman, G.I. et al. | IEEE | 2004


    Diffraction management in 2D waveguide arrays

    Aqiang Guo, / Yongan Tang, / Black, W. et al. | IEEE | 2004


    Two-dimensional discrete diffraction in silica waveguide arrays

    Burghoff, J. / Will, M. / Nolte, S. et al. | IEEE | 2004


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    Pertsch, T. / Iwanow, R. / Schiek, R. et al. | IEEE | 2004


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    Trompeter, H. / Peschel, U. / Pertsch, T. et al. | IEEE | 2004