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    Titel :

    Understanding Particulate Contaminants via Automated Electron Beam Analysis



    Kongress:

    World congress, Society of Automotive Engineers; SAE 2004 world congress



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    1337 pages


    Anmerkungen:

    Nos 2004-01-0001 to 2004-01-1791 with gaps



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Understanding particulate contaminants via automated electron beam analysis

    Schamber,F.H. / Van Beek,C.G. / ASPEX,US | Kraftfahrwesen | 2004


    Understanding Particulate Contaminants via Automated Electron Beam Analysis

    van Beek, Cornelis G. / Schamber, Frederick H. | SAE Technical Papers | 2004


    2004-01-1337 Understanding Particulate Contaminants via Automated Electron Beam Analysis

    Schamber, F. H. / van Beek, C. G. / Society of Automotive Engineers | British Library Conference Proceedings | 2004