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    Titel :

    2004-01-0716 Next Generation Testing Tools for Embedded Automotive Applications


    Beteiligte:
    Deutsch, A. (Autor:in) / SAE

    Kongress:

    Session, In-vehicle networks and software, electrical wiring harnesses, and electronics and systems reliability



    Erscheinungsdatum :

    2004-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages


    Anmerkungen:

    Held with the sessions on in-vehicle software, electrical wiring harnesses and automobile electronics & systems reliability as part of the SAE 2004 world congress



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Next generation testing tools for embedded automotive applications

    Deutsch,A. / PolySpace Technologies,US | Kraftfahrwesen | 2004



    S5 0716+714: GeV variability study

    Rani, B. / Krichbaum, T.P. / Lott, B. et al. | Elsevier | 2013


    S5 0716+714: GeV variability study

    Rani, B. | Online Contents | 2013