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    Titel :

    New Demonstration Technique of 20 nm Spatial Resolution Soft X-ray Microscopy


    Beteiligte:

    Kongress:

    Annual meeting; 16th, IEEE Lasers & Electro-optics Society; LEOS 2003 ; 2003 ; Tucson, AZ



    Erscheinungsdatum :

    2003-01-01


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 03CH37460




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    New demonstration technique of 20 nm spatial resolution soft X-ray microscopy

    Chao, W. / Anderson, E. / Denbeaux, G. et al. | IEEE | 2003


    High-resolution soft x-ray microscopy [4146-24]

    Chao, W. / Anderson, E. H. / Denbeaux, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000


    High Spatial Resolution Subsurface Thermal Emission Microscopy

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2003


    High spatial resolution subsurface thermal emission microscopy

    Ippolito, S.B. / Thorne, S.A. / Eraslan, M.G. et al. | IEEE | 2003


    Advances in Nanoscale Resolution Soft X-Ray Laser Microscopy

    Menoni, C. S. / Brizuela, F. / Brewer, C. et al. | Springer Verlag | 2009