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    Titel :

    Non-Contact Evaluation of Photodiode Performance by Laser Beam Induced Current Imaging


    Beteiligte:
    Redfern, D. A. (Autor:in) / Musca, C. A. (Autor:in) / Dell, J. M. (Autor:in) / Faraone, L. (Autor:in) / Gal, M. / IEEE

    Kongress:

    Conference, Optoelectronic and microelectronic materials and devices; COMMAD 2002 ; 2002 ; Sydney, Australia



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 02EX601




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Non-contact evaluation of photodiode performance by laser beam induced current imaging

    Redfern, D.A. / Musca, C.A. / Dell, J.M. et al. | IEEE | 2002


    Evaluation of HgCdTe using laser beam induced current [2554-11]

    Arinaga, K. / Ozaki, K. / Sudo, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995


    HgCdTe photodiode performance degradation

    Bovina, L. A. / Boltar, K. O. / Stafeev, V. I. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    Quantifying current-dependant quantum efficiency photodiode nonlinearities

    Hastings, A. S. / Draa, M. / Williams, K. | IEEE | 2011


    Waveguide Photodiode

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1997