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    Titel :

    Analysis of Gan/AlN Buffer Layers Grown on Sapphire Substrates via Statistical Diffraction Theory


    Beteiligte:
    Mudie, S. T. (Autor:in) / Pavlov, K. M. (Autor:in) / Morgan, M. J. (Autor:in) / Takeda, Y. (Autor:in) / Tabuchi, M. (Autor:in) / Hester, J. (Autor:in) / Gal, M. / IEEE

    Kongress:

    Conference, Optoelectronic and microelectronic materials and devices; COMMAD 2002 ; 2002 ; Sydney, Australia



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    6 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 02EX601




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch