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    Titel :

    Evaluation of Data Retention and Imprint Characteristics of FRAMs Under Environmental Stresses for NASA Applications



    Kongress:

    3rd, Non-volatile memory technology symposium ; 2002 ; Honolulu, HI



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    8 pages


    Anmerkungen:

    Also known as NVMTS2002


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




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