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    Titel :

    Micro-arcsecond metrology (MAM) testbed overview [4852-04]


    Beteiligte:
    Hines, B. E. (Autor:in) / Bell, C. E. (Autor:in) / Goullioud, R. (Autor:in) / Spero, R. (Autor:in) / Neat, G. W. (Autor:in) / Shen, T. J. (Autor:in) / Bloemhof, E. E. (Autor:in) / Shao, M. (Autor:in) / Catanzarite, J. (Autor:in) / Regehr, M. W. (Autor:in)

    Kongress:

    Conference, Interferometry in space ; 2002 ; Waikoloa, HI



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    12 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    The Micro-arcsecond Metrology Testbed (MAM)

    Schmidtlin, E. / Savedra, R. / Lin, Y. et al. | NTRS | 1998



    Absolute metrology for the Kite testbed [4852-54]

    Mason, J. E. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 2003


    Wide-field imaging interferometry testbed 3: metrology subsystem [4852-99]

    Leviton, D. B. / Frey, B. J. / Leisawitz, D. T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Testbed for a fiber-optic-based laser metrology gauge [4852-62]

    Tuttle, C. E. / Bell, R. M. / Anderson, W. W. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003