Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    A new reliability mechanism observed on Al gate based PHEMT structure


    Beteiligte:
    Martin, N. (Autor:in) / Rogeaux, E. (Autor:in) / Bensoussan, A. (Autor:in) / Badoch, J. L. (Autor:in) / Rieunau, G. (Autor:in) / Muraro, J. L. (Autor:in) / Brasseau, F. (Autor:in) / Fellon, P. (Autor:in) / Pataut, G. (Autor:in) / European Space Agency

    Kongress:

    European space components conference ; 2002 ; Toulouse, France



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    4 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Reliability assessment of the Ommic D01PH PHEMT power process

    Perichaud, M.-G. / Baudet, P. / European Space Agency | British Library Conference Proceedings | 2002


    Performance of InGaP/InGaAs/GaAs Camel-Gate Single delta-Doping pHEMT

    Tsai, J.-H. / IEEE | British Library Conference Proceedings | 2002



    Practical mm-Wave pHEMT Frequency Multiplier

    OCiardha, E. / Lynch, J. / Lyons, B. et al. | British Library Online Contents | 2002


    Output power characteristics of cooled power PHEMT MMICs

    Sokolov, V. / Childs, T. / Dwarkin, R. et al. | IEEE | 1998