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    Titel :

    Wave-optical analysis of submicron focusing of hard x-ray beams by reflective optics [4782-36]


    Beteiligte:
    Yamauchi, K. (Autor:in) / Yamamura, K. (Autor:in) / Mimura, H. (Autor:in) / Sano, Y. (Autor:in) / Saito, A. (Autor:in) / Kanaoka, M. (Autor:in) / Endo, K. (Autor:in) / Souvorov, A. (Autor:in) / Yabashi, M. (Autor:in) / Tamasaku, K. (Autor:in)

    Kongress:

    conference, X-ray mirrors crystals and multilayers ; 2002 ; Seattle, WA



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    6 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Submicron focusing of hard x-ray beam by elliptically figured mirrors for scanning x-ray microscopy [4782-07]

    Mori, Y. / Yamauchi, K. / Yamamura, K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Nr. 4782

    DataCite | 1937


    Topography measurement of nanometer synchrotron optics [4782-02]

    Illemann, J. / Geckeler, R. D. / Weingartner, I. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Challenges for synchrotron x-ray optics [4782-01]

    Freund, A. K. / International Society for Optical Engineering | British Library Conference Proceedings | 2002


    Highly reflective uranium mirrors for astrophysics applications [4782-29]

    Allred, D. D. / Squires, M. B. / Turley, R. S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002