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    Titel :

    Electrical Characterization of GaN Thin Films Using Terahertz-Time Domain Spectroscopy


    Beteiligte:
    Nagashima, T. (Autor:in) / Takata, K. (Autor:in) / Hangyo, M. (Autor:in)

    Kongress:

    Annual international conference; 27th, Infrared and millimeter waves ; 2002 ; San Diego, CA



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    W5.3


    Anmerkungen:

    Known as IRMMW 2002. IEEE catalogue no 02EX561; See also 4542.305 vol 23 no 2 2002 for papers



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    High resolution terahertz time-domain spectroscopy

    Kroll, J. / Darmo, J. / Unterrainer, K. | IEEE | 2004


    Terahertz time-domain spectroscopy probes materials

    Mittleman, D. M. | British Library Online Contents | 1998



    Terahertz time-domain spectroscopy of wheat grain

    Chua, H.S. / Upadhya, P.C. / Haigh, A.D. et al. | IEEE | 2004