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    Titel :

    Optical and electronic characterization on HgCdTe materials [4795-11]


    Beteiligte:
    Chu, J. H. (Autor:in) / Chang, Y. (Autor:in) / Huang, Z. M. (Autor:in) / Gui, Y. S. (Autor:in) / Wang, X. G. (Autor:in) / Lu, X. F. (Autor:in) / He, L. (Autor:in) / Tang, D. Y. (Autor:in) / Longshore, R. E. / Sivananthan, S.

    Kongress:

    Conference; 2nd, Materials for infrared detectors ; 2002 ; Seattle, WA



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    10 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Progress in MBE growth of HgCdTe at SITP [4795-05]

    He, L. / Wu, Y. / Chen, L. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    MBE growth of HgCdTe HOT detector heterostructures [4795-16]

    Zhao, J. / Zhou, Y. D. / Badano, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Nr. 4795

    DataCite | 1937


    Minority carrier lifetime in abrupt MBE-grown HgCdTe heterostructures [4795-37]

    Sewell, R. / Dell, J. M. / Musca, C. A. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Noise measurements of HgCdTe LWIR arrays with CCD readouts [4795-24]

    Sizov, F. F. / Golenkov, A. G. / Zabudsky, V. V. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002