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    Titel :

    Depth-scanning fringe projection: a new technique for absolute phase evaluation [4596-06]



    Kongress:

    Conference; 2nd, Advanced photonic sensors and applications ; 2000 ; Singapore



    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Active industrial surface inspection with the inverse projected-fringe technique [4596-07]

    Kalms, M. K. / Osten, W. / Juptner, W. P. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Nr. 4596

    DataCite | 1933


    Dynamic phase-shift photoelasticity [4596-44]

    Liu, T. / Boay, C. G. / Asundi, A. K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Fourier transform method for phase retrieving from fringe patterns with carrier: window selection [4596-56]

    Qian, K. / Wu, X. / Asundi, A. K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001