Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Current and ultimate limitations of scanning x-ray nanotomography [4499-09]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, X-ray micro- and nano-focusing: applications and techniques II ; 2001 ; San Diego, CA



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2001


    Format / Umfang :

    6 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Refractive and diffractive x-ray optical elements [4499-14]

    Snigireva, I. / Snigirev, A. A. / Kuznetsov, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    X-ray imaging microscope with a partial coherent illumination [4499-10]

    Takeuchi, A. / Takano, H. / Uesugi, K. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Experimental analysis of high-resolution soft x-ray microscopy [4499-23]

    Chao, W. / Anderson, E. H. / Denbeaux, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Wide-field x-ray microscopy with Kirkpatrick-Baez optics [4499-11]

    Jach, T. / Durbin, S. M. / Bakulin, A. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001