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    Titel :

    Stitching interferometry for the wavefront metrology of x-ray mirrors [4501-07]



    Kongress:

    Conference; 2nd, X-ray mirrors, crystals, and multilayers ; 2001 ; San Diego, CA



    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    5 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4501

    DataCite | 1931


    Stitching Interferometry: A Flexible Solution for Surface Metrology

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