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    Titel :

    Present status of the ASET at-wavelength phase-shifting point diffraction interferometer [4146-05]


    Beteiligte:
    Sugisaki, K. (Autor:in) / Zhu, Y. (Autor:in) / Gomei, Y. (Autor:in) / Niibe, M. (Autor:in) / Watanabe, T. (Autor:in) / Kinoshita, H. (Autor:in) / Kaiser, W. M. / Stulen, R. H. / SPIE

    Kongress:

    Conference, Soft x-ray and EUV imaging systems ; 2000 ; San Diego, CA



    Erscheinungsdatum :

    2000-01-01


    Format / Umfang :

    7 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4146

    DataCite | 1925


    High-precision measurements of the groove density of diffraction gratings [4146-16]

    Cocco, D. / Sergo, R. / Sostero, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000



    High-resolution soft x-ray microscopy [4146-24]

    Chao, W. / Anderson, E. H. / Denbeaux, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000


    Portable diagnostics for EUV light sources [4146-13]

    Stuik, R. / Constantinescu, R. C. / Hegeman, P. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000