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    Titel :

    Process Upsets Involving Trace Contaminant Control Systems


    Beteiligte:
    Graf, J. (Autor:in) / Perry, J. (Autor:in) / Wright, J. (Autor:in) / Bahr, J. (Autor:in) / SAE

    Kongress:

    International conference; 30th, Environmental systems ; 2000 ; Toulouse, France



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2000


    Format / Umfang :

    ALL


    Anmerkungen:

    Paper nos 2000-01-2230 to 2000-01-2531 with gaps held only



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Process Upsets Involving Trace Contaminant Control Systems

    Perry, Jay / Bahr, Jim / Graf, John et al. | SAE Technical Papers | 2000


    Single-event upsets in spacecraft digital systems

    Lewkowicz, P.E. / Richter, L.J. | Tema Archiv | 1985




    Proton upsets in orbit

    Bendel, W.L. / Petersen, E.L. | Tema Archiv | 1983