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    Titel :

    Control of Mo/Si multilayers for soft x-ray performance [3767-35]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, EUV, X-ray, and neutron optics and sources ; 1999 ; Denver, CO



    Erscheinungsdatum :

    1999-01-01


    Format / Umfang :

    9 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 3767

    DataCite | 1917


    High-uniformity collimator for x-ray proximity lithography [3767-06]

    Cash, W. C. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1999



    EUV spectroscopy of ultrafast capillary discharges [3767-52]

    Knight, L. V. / Turley, R. S. / Crawford, C. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    Microfocusing VLS-grating-based beamline for advanced microscopy [3767-38]

    Cocco, D. / Marsi, M. / Kiskinova, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999