Die Leiter-Leitschicht-Grenzflaeche als Ausloeser der "Spannungsinduzierten Elektrochemischen Degradation" (SIED) der inneren Leitschicht VPE-isolierter Mittelspannungskabel
Fachtagung, Einfluss von Grenzflachen auf die Lebensdauer elektrischer Isolierungen ; 1999 ; Bad Nauheim; Germany
01.01.1999
8 pages
Aufsatz (Konferenz)
Deutsch
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