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    Titel :

    Stress Measurements in Oxidized GaAs/AlAs Structures by Micro-Raman Spectroscopy



    Kongress:

    Annual meeting; 11th, IEEE: Lasers and Electro-Optics Society; LEOS '98 ; 1998 ; Orlando; FL



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1998


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no: 98CH36243




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Interface Recombination at the Selectively Wet-Oxidized AlAs-GaAs Interface

    IEEE / Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1995


    Mechanical stress measurements using micro-Raman spectroscopy

    De Wolf, I. / Maes, H. E. | British Library Online Contents | 1998


    Vertikaler Transport in GaAs-AlAs-Übergitterstrukturen

    Grahn, Holger T. / Grahn, Holger Theodor | TIBKAT | 1992


    Design of AlAs-oxidized VCSELs with Stable Fundamental Mode Operation

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1997


    Thermal diffusivity of GaAs/AlAs superlattices

    Chen, G. / Yu, X. | AIAA | 1994