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    Titel :

    Carrier Lifetimes in Vertical Cavity Surface Emitting Lasers Determined from Electrical Impedance Measurements



    Kongress:

    Annual meeting; 11th, IEEE: Lasers and Electro-Optics Society; LEOS '98 ; 1998 ; Orlando; FL



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1998


    Format / Umfang :

    213 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no: 98CH36243




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Thermal Impedance Measurements in Vertical-Cavity Lasers

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1996


    Thermal impedance measurements in vertical-cavity lasers

    Wipiejewski, T. / Young, D.B. / Coldren, L.A. et al. | IEEE | 1996


    Orange vertical cavity surface emitting lasers

    Lott, J.A. / Malloy, K.J. | IEEE | 1995


    High Brightness Vertical Cavity Surface Emitting Lasers

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2003


    Microchip Vertical External Cavity Surface-Emitting Lasers

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2003