Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Precise measurement of nonoptical surfaces by an oblique incidence interferometer [3478-20]



    Kongress:

    Conference; 9th, Laser interferometry: applications ; 1998 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1998


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 3478

    DataCite | 1912


    Direct group-delay measurement and 3D profilometry using a white-light interferometer [3478-06]

    Liang, Y. / Wu, Q. M. J. / Grover, C. P. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998



    Flatness measurement by a UV moire technique [3478-54]

    Fujiwara, H. / Kodera, Y. / Otani, Y. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Fourier transform moire deflectometry [3478-42]

    Wang, M. / Li, D. / Zhong, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998