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    Titel :

    Microelectronics and Photonics Test Bed



    Kongress:

    20th, Annual Rocky Mountain guidance and control conference ; 1997 ; Breckenridge; CO



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    12 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




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    Jackson, George L. / LaBel, Kenneth A. / Flanegan, Mark C. et al. | SPIE | 1996





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    LaBel, K.A. / Barnes, C.E. / Marshall, P.W. et al. | IEEE | 2000