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    Titel :

    Color line scan technology: new tool for industrial process and quality control applications [2784-22]



    Kongress:

    Conference, Vision systems: sensors, sensor systems, and components ; 1996 ; Besancon; France



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    10 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 2784

    DataCite | 1898


    Structured light measurement by double-scan technique [2784-05]

    Gaertner, H. / Lehle, P. / Tiziani, H. J. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996


    Information gained by data fusion [2784-06]

    Arndt, C. / Loffeld, O. / European Optical Society et al. | British Library Conference Proceedings | 1996


    Log polar image sensor in CMOS technology [2784-02]

    Scheffer, D. / Dierickx, B. / Pardo, F. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996


    Instruction systolic array in image processing applications [2784-23]

    Schimmler, M. / Lang, H.-W. / European Optical Society et al. | British Library Conference Proceedings | 1996