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    Titel :

    Correction of Carrier Lifetime Measurements of Semiconductor Lasers



    Kongress:

    8th Annual meeting, LEOS '95 ; 1995 ; San Francisco; CA


    Erschienen in:

    LEOS '95 ; 282-283


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1995


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE Cat no 95CH35739



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Correction of carrier lifetime measurements of semiconductor lasers

    Shtengel, G.E. / Ackerman, D.A. / Morton, P.A. et al. | IEEE | 1995


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    Koyama, F. / Sato, S. / Miyamoto, T. et al. | IEEE | 1998


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    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1998


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    Pikal, J.M. / Menoni, C.S. / Temkin, H. et al. | IEEE | 1997