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    Titel :

    Tomographic scanning microscope for 1- to 4-KeV x rays [2516-28]


    Beteiligte:
    McNulty, I. (Autor:in) / Feng, Y. P. (Autor:in) / Haddad, W. S. (Autor:in) / Trebes, J. E. (Autor:in) / Yun, W. / SPIE

    Kongress:

    Conference, X-ray microbeam technology and applcations ; 1995 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    1995-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Toward a micrometer resolution x-ray tomographic microscope [2516-14]

    Silver, M. D. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1995


    Scanning transmission x-ray microscope at the NSLS: from XANES to cryo (Invited Paper) [2516-08]

    Maser, J. M. / Chapman, H. N. / Jacobsen, C. J. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995


    Nr. 2516

    DataCite | 1893


    White-light spacial frequency multiplication using soft x rays [2516-30]

    Wei, M. / Gullikson, E. M. / Underwood, J. H. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995


    Microfocusing optics for hard x rays fabricated by x-ray lithography (Invited Paper) [2516-02]

    Krasnoperova, A. A. / Chen, Z. / Cerrina, F. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995