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    Titel :

    Force measuring sensor applying transmission ellipsometric principles



    Kongress:

    1st Conference on applied optics and opto-electronics, Applied optics digest ; 1990 ; Nottingham


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1990


    Format / Umfang :

    2 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Measuring Unresolved Surface Features Using Imaging Ellipsometric Polarization Signatures

    Zhan, Q. / Leger, J. R. / Optical Society of America | British Library Conference Proceedings | 2002


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    Zabler, Erich / Gerhardt, Christian / Miekley, Klaus et al. | Springer Verlag | 2014


    Sensor measuring principles

    Robert Bosch GmbH | Springer Verlag | 2014


    Ellipsometric measurements for thin-film-based sensor systems [2509-10]

    Chitaree, R. / Murphy, V. / Weir, K. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995


    Micro-ellipsometric true topography

    Liu, Y. A. / See, C. W. / Somekh, M. G. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996