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    Titel :

    X-Rays Image Analysis for Defects Detection and Characterization in Metallic Samples


    Beteiligte:

    Kongress:

    1st International conference on image processing, ICIP'94 ; 1994 ; Austin; TX


    Erschienen in:

    ICIP'94 ; 321-325


    Erscheinungsdatum :

    1994-01-01


    Format / Umfang :

    5 pages


    Anmerkungen:

    In 3 vols; IEEE Cat no 94CH35708



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




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