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    Titel :

    Express method for optical strength diagnostics in transparent dielectrics and semiconductors [2113-26]



    Kongress:

    International workshop, Optical diagnostics of materials and devices for opto-, micro-, and quantum electronics ; 1993 ; Kiev



    Erscheinungsdatum :

    1994-01-01


    Format / Umfang :

    5 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Optical diagnostics of quaternary narrow-gap semiconductors [2113-03]

    Tarasov, G. G. / Mazur, Y. I. / Tomm, J. W. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994


    Intracavity diagnostics of optical inhomogeneity [2113-21]

    Bekshaev, A. Y. / Grimblatov, V. M. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1994


    Nr. 2113

    DataCite | 1886


    Luminescence diagnostics of direct-gap semiconductors within a wide range of excitation levels [2113-16]

    Shevel, S. G. / Taranenko, L. V. / Voznyi, V. L. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994


    Echolotdaten - Nordsee 2013 2113

    Bundesamt für Seeschifffahrt und Hydrographie (BSH) | Mobilithek | 2024

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