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    Titel :

    EZ-scan: single-beam measurement technique for thin-film nonlinearities [2229-17]


    Beteiligte:
    Xia, T. (Autor:in) / Sheik-Bahae, M. (Autor:in) / Wang, Z. (Autor:in) / Said, A. A. (Autor:in) / Soileau, M. J. / SPIE

    Kongress:

    Conference, Nonlinear optical materials for switching and limiting ; 1994 ; Orlando; FL



    Erscheinungsdatum :

    1994-01-01


    Format / Umfang :

    10 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    AIAA-2006-2229 Thin Film Antenna Development and Optimization

    Pearson, J. / Romanofsky, R. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2006


    Cosmos 2229

    Edgerton, V. Reggie / Roy, Roland R. / Hodgson, John A. | NTRS | 1993


    Z-scan measurement on liquid crystals using top-hat beams [2229-16]

    Zhao, W. / Kim, J. H. / Palffy-Muhoray, P. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994


    All-optical switching using second-order nonlinearities in KTP [2229-22]

    Wang, Z. / Hagan, D. J. / Sheik-Bahae, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994


    Cosmos 2229

    V. R. Edgerton / R. R. Roy / J. A. Hodgson | NTIS | 1993