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    Titel :

    Fault Detection in Digital and Analog Circuits Using an i~D~D Temporal Analysis Technique



    Kongress:

    5th Symposium, VLDSI design ; 1993 ; Albuquerque; NM


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1993


    Format / Umfang :

    7.2


    Anmerkungen:

    Held as 7 microfiche


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Susceptibility Detection of Analog and Digital Circuits

    Marziali, I. / Boschetti, D. / Nicoletto, M. et al. | IEEE | 2019


    Analog circuits fault diagnosis based on serial support vector multi-classifier

    Jiuqing, W. / Xingshan, L. | British Library Online Contents | 2003


    Feed-Forward Multilayer NN Implementation of Analog Circuits Fault Dictionary Approach

    Cui, C. / Luo, X. / Qui, G. | British Library Online Contents | 1996