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    Optical bi-sensorial measurement system for production control of extruded profile

    Weckenmann, Albert / Bernstein, Johanne | IuD Bahn | 2009

    Mikrokoordinatenmesstechnik mit elektrischer Werkstückantastung

    Robust, flexibel und praxisgerecht
    Schuler, Alexander / Weckenmann, Albert / Hoffmann, Jörg | IuD Bahn | 2009

    Deflektometrie macht der Interferometrie Konkurrenz

    Knauer, Markus C. | IuD Bahn | 2009

    Makyoh-Imaging zur Charakterisierung reflektierender Oberflächen

    Finck, Alexander von / Duparré, Angela / Pfeffer, Michael | IuD Bahn | 2009

    Volumenstrommessung mit gravimetrischen Normalmessanlagen

    Mathie, Nicolau / Adunka, Franz / Schupp, Reiner | IuD Bahn | 2008

    Fasergekoppeltes Terahertz-Spektroskopiesystem

    Ellrich, Frank | IuD Bahn | 2008

    Neuer Ansatz zur Definition von geometrischen Oberflächeneigenschaften für tribologische Systeme

    Gerlach, Marco / Gröger, Sophie / Dietzsch, Michael | IuD Bahn | 2009

    Application of computer tomography in manufacturing metrology

    Weckenmann, Albert / Krämer, Philipp | IuD Bahn | 2009

    ISO-Filter für die Fertigungsmesstechnik

    Krystek, Michael | IuD Bahn | 2009

    Drehstromaggregate prüfen ohne Wicklungstrennung

    Wagner, Friedrich Ernst / Bähnck, Frauke | IuD Bahn | 2009

    Ermittlung der Messunsicherheit von Computertomographie-Messungen am Beispiel eines Zylinderkopfe

    Bartscher, Marku / Hilpert, Uwe / Fiedler, Dirk | IuD Bahn | 2008

    Belastungsanalyse elektronischer Systeme

    Pustan, David / Wilde, Jürgen | IuD Bahn | 2008

    Anwendungspotenzial integrierter Dünnschichtresonatoren in flüssigen und gasförmigen Medien

    Schreiter, Matthia / Link, Mathia / Weber, Jan | IuD Bahn | 2008

    Rückführbare Koordinatenmesstechnik für die Mikrobauteile

    Grundlagen und Beispiele
    Härting, Frank / Neuschaefer-Rube, Ulrich | IuD Bahn | 2008