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    Investigation and tuning of organic thin films by methods of atomic force microscopy

    Limböck, Thorsten Simon | TIBKAT | 2019
    Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

    Optical Properties of Variable-Composition Aluminum/Alumina Thin Films, Part 2

    Jung, Jy-Yun / Brewster, M. Quinn | AIAA | 2014
    Schlagwörter: Atomic Force Microscopy

    Optical Properties of Variable-Composition Aluminum/Alumina Thin Films, Part 1

    Jung, Jy-Yun / Brewster, M. Quinn | AIAA | 2014
    Schlagwörter: Atomic Force Microscopy

    Vacuum-deposited perovskite solar cells

    Erdenebileg, Enkhtur / Technische Universität Dresden | TIBKAT | 2018
    Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

    Massenselektierte Metallcluster als Bausteine neuer Nanomaterialien

    Freier Zugriff
    Dollinger, Andreas / Universität Konstanz | TIBKAT | 2016
    Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

      Massenselektierte Metallcluster als Bausteine neuer Nanomaterialien

      Dollinger, Andreas / Universität Konstanz | TIBKAT | 2016
      Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

    Mikroskopische Charakterisierung von LFCs für dünne multikristalline Si-Solarzellen

    Freier Zugriff
    Ebser, Jan / Universität Konstanz | TIBKAT | 2017
    Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

      Mikroskopische Charakterisierung von LFCs für dünne multikristalline Si-Solarzellen

      Ebser, Jan / Universität Konstanz | TIBKAT | 2017
      Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

    Nanomechanical characterization and mechanical integrity of unaged and aged Li-ion battery cathodes

    Ramdon, Sanjay / Bhushan, Bharat | Tema Archiv | 2014
    Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

    Use of electropolishing for enhanced metallic specimen preparation for electron backscatter diffraction analysis

    Wynick, G.L. / Boehlert, C.J. | Tema Archiv | 2005
    Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie

    A new mechanical-electrical approach to the wheel-rail contact

    Descartes, S. / Renouf, M. / Fillot, N. et al. | Tema Archiv | 2008
    Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

    Green strength enhancement in BIIR/Olefin copolymer compounds

    Tsou, Andy H. / Duvdevani, Ilan / Datta, Sudhin | Tema Archiv | 2006
    Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

    Rotating step by step piezomotor for nanopositioning & space applications

    Six, M.F. / Letty, R. le / Coste, P. et al. | Tema Archiv | 2006
    Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie

    Grain refinement in electrogalvanized coatings

    Martyak, Nicholas M. | Tema Archiv | 2003
    Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie

    Effect of low earth orbit atomic oxygen exposure on phenylphosphine oxide-containing polymers

    Connell, J.W. | Tema Archiv | 1999
    Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie

    Metal-metal friction characteristics and gear pitting life performance of metal V-belt type CVTFs

    Narita, Keiichi | Tema Archiv | 2012
    Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie

    Mechanisms based on piezo actuators

    Claeyssen, F. / Le Letty, R. / Barillot, F. et al. | Tema Archiv | 2001
    Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie

    Polymer nanocomposites for aerospace applications: characterization

    Njuguna, James / Pielichowski, Krzysztof | Tema Archiv | 2004
    Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie

    Non-silicone inorganic polymers based coatings for atomic oxygen protection in LEO

    Poire, E. / Sellars, B.G. / Nguyen, D. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie