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    New on-chip screening of gate oxides smart power devices for automotive applications

    Malandruccolo, V. / Ciappa, M. / Rothleitner, H. et al. | Tema Archiv | 2009
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen , Prüfung von Halbleiterbauelementen

    In situ Defect-screening of Integrated LDMOS for Critical Automotive Applications

    Malandruccolo, V. / Ciappa, M. / Fichtner, W. et al. | Tema Archiv | 2010
    Schlagwörter: Prüfung von Halbleiterbauelementen

    In situ screening techniques for defective oxides in devices for automotive applications

    Malandruccolo, V. / Ciappa, M. / Fichtner, W. et al. | Tema Archiv | 2011
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen

    Novel solution for the built-in gate oxide stress test of LDMOS in integrated circuits for automotive applications

    Malandruccolo, V. / Ciappa, M. / Fichtner, W. et al. | Tema Archiv | 2009
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen