In Fahrzeugen treten Temperaturen bis 150 Grad C auf, die oberhalb der für CMOS-Schaltungen erlaubten 125 Grad C liegen und zu Ausfällen (Latch-up-Effekt) führen können. Treiberbedingte Ausfälle sind vorhersagbar und lassen sich durch ein korrektes Schaltungsauslegen vermeiden. Über Langzeitexperimente bei erhöhten Temperaturen (HTOL - high-temperature operating life test) gelingt es, Bauelemente auszuwählen, die unter diesen Bedingungen auch in Fahrzeugen eingesetzt werden können. Die Verhältnisse werden am Beispiel der CMOS-Familie 4000 (Motorola) vorgestellt und anhand von Diagrammen (Ausfallrate, Fit-Rate) unterstützt.


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    Titel :

    Feuerfest. CMOS-Chips für Kfz-Applikationen bis 150 Grad C


    Weitere Titelangaben:

    CMOS chips for the car application up to 150 deg C


    Beteiligte:
    Meyer, R. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Elektronik Journal ; 33 , 2 ; 80-82


    Erscheinungsdatum :

    1998


    Format / Umfang :

    3 Seiten, 2 Bilder



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch





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