Stochastische Kabelbaummodelle in der Literatur verfolgen unterschiedliche Ansätze. In der Literatur werden Modelle vorgestellt, deren Geometrien durch analytische Gleichungen beschrieben sind. Für wenige Adern werden damit exakte analytische Lösungen der stochastischen Eigenschaften der Ergebnisgröße abgeleitet. Modelle, die zufällige Geometrien durch Algorithmen erzeugen, sind in vielfältiger Weise in der aufgeführten Literatur beschrieben: während das Monte-Carlo-Modell wegen unkorrelierter Folgequerschnitte geometrische Konflikte aufweist und so zu unrealistischen Ergebnissen führt, beheben die Random Midpoint Displacement und Random Displacement Spline Interpolation Modelle geometrische Konflikte durch eine Nachbereitung der erzeugten Geometrie. Darüber hinaus existieren Modelle, die den Weg über konkrete Geometrien des Kabelbaums gänzlich verwerfen und durch Anwendung der Wahrscheinlichkeitsrechnung auf die Telegraphengleichung die Stochastik eines zufälligen Kabelbaums einfließen lassen. Letztlich gibt es noch Modelle, die mit starken Vereinfachungen für ein großes Verhältnis aus Frequenz zur Kabelbaumlänge Näherungslösungen erzielen. In diesem Artikel wird ein vollständig parametrisiertes Kabelbaummodell vorgestellt, das zu der Kategorie der geometrieerzeugenden Algorithmen gehört. Aufgrund eines systematischen Abgleichs mit Messungen realer Kabelbäume sind damit genaue Vorhersagen möglich. Das Kabelbaummodell kann durch eine universelle Konstante und eine für die jeweilige Kabelbaumkonfiguration charakteristische Dichte beschrieben werden. Das Ader-Loch-Modell lässt sich aufgrund dieser Zusammenhänge auch für noch unbekannte Kabelbaumkonfigurationen einstellen und eine hohe Genauigkeit der Vorhersage des Modells kann erwartet werden. Zukünftig soll das Modell um verdrillte Leitungen erweitert und außerdem in Systemsimulationen eingesetzt werden.


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    Titel :

    Stochastisches Kabelbaummodell und dessen messtechnische Validierung für Kabelbäume in EMV-Komponentenmessverfahren der Automobilindustrie


    Weitere Titelangaben:

    A stochastic automotive wiring harness model and its measurement related validation for wiring harnesses applied from the automotive industry to EMC component measuring methods


    Beteiligte:
    Gonser, Markus (Autor:in) / Keller, Christoph (Autor:in) / Hansen, Jan (Autor:in) / Weigel, Robert (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2010


    Format / Umfang :

    8 Seiten, 5 Bilder, 4 Tabellen, 15 Quellen



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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