Der LIN-Bus ist inzwischen im Kraftfahrzeug fest etabliert als kostengünstiger Bus. Er wird mittlerweile eingesetzt für die Ansteuerung der verschiedensten Applikationen. Entsprechend groß ist somit die verbaute Anzahl von LIN-Knoten im Kraftfahrzeug. Damit stellt sich für die Fahrzeughersteller immer mehr die Frage nach der Sicherheit der Datenübertragung in der rauen Kraftfahrzeugumgebung. Dabei werden vor allem für die Hardware immer höhere Anforderungen definiert, die Übertragungsfehler erst gar nicht auftreten lassen. So verlangen die Fahrzeughersteller zusätzlich zu dem Nachweis, dass die Bauteile dem LIN-2.0-Standard entsprechen, auch spezielle EMV-Prüfberichte. Es werden bereits im Vorfeld komplette Bussysteme in speziellen HF-Labors aufgebaut und auf Störfestigkeit getestet. Dies ermöglicht eine frühe Erkennung von Schwächen im Bussystem. Eine weitere Möglichkeit ist die Durchführung von standardisierten EMV-Tests für LIN-Transceiver auf Schaltkreisebene durch unabhängige Testlabors. So ist es etwa mit DPI-Messungen (Direct Power Injection) möglich, ICs auf Störfestigkeit gegenüber elektromagnetischer Einstrahlung zu testen. Der Einsatz der SOI-Technologie (Silicon on Insulator) ermöglicht die Realisierung LIN-Transceiver-ICs, die im rauen Umfeld des Kraftfahrzeugs sicher funktionieren. Kraftfahrzeug-Bussystem


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    Titel :

    SOI für den LIN-Bus. Hohe EMV-Hürden erfordern Technologie-Umstieg


    Beteiligte:
    Mochel, Claus (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2007


    Format / Umfang :

    4 Seiten, 6 Bilder



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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