Mit der gestiegenen Komplexität der Kfz-Elektronik und -Software sind auch die Anforderungen an Testverfahren in der Entwicklung gewachsen. Raumfüllende Hardware-in-the-Loop-Simulatoren und Laborauto-Aufbauten sind in den Entwicklungsabteilungen vieler Fahrzeughersteller und Systemlieferanten zu finden. Als Ergänzung zum Fahrversuch decken solche Anlagen wichtige Teilaufgaben bei der Entwicklung und Integration von Kfz-Elektronik ab, vor allem in frühen Entwicklungsphasen. Aussagen von erfahrenen Elektronikentwicklern belegen jedoch, dass diese aufwendigen Verfahren nur bedingt für die grundlegenden, sich häufig wiederholenden Prüfaufgaben geeignet sind, die den Entwicklungsprozess prägen und letztlich die Zuverlässigkeit des Serienfahrzeugs in hohem Maße bestimmen. Um diese Lücke zu schließen, wird vom FKFS (Forschungsinstitut für Kraftfahrwesen und Fahrzeugmotore) aus Stuttgart jetzt das innovative PATE-(Personal Automatic Tester for Electronics-) System vorgestellt. Eine einfach zu bedienende Testumgebung, die aufgrund ihrer wirtschaftlichen Konzeption sowohl als stand-alone Tester am einzelnen Entwickler-Arbeitsplatz als auch für größere Prüfaufbauten innerhalb einer Entwicklungsabteilung bei OEMs und Elektronik-Zulieferern geeignet ist. National Instruments (Austin, Texas, USA) Teststand ist zentraler Software-Baustein dieses Systems und bietet die Flexibilität, die notwendig ist, um individuelle Module in eine Testumgebung zu integrieren und den Testablauf zu automatisieren. Die Konzeption und die Umsetzung des PATE-Systems wird erläutert und die Vorteile einer solchen Lösung werden verdeutlicht.


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    Titel :

    Eine offene Integrations- und Automatisierungsplattform für Steuergeräte-Tests im Automobilbereich mit NI Teststand


    Beteiligte:
    Brost, M. (Autor:in) / Baumann, G. (Autor:in) / Reuss, H.C. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2005


    Format / Umfang :

    6 Seiten, 6 Bilder



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch