Loose, R.H.: Wiring verification test of electronic switching systems: A host controlled, multiple facility, data distribution system (1-14). -- Goodson, R.M.: Semiconductor screening - a primer (15-23). -- Eppel, J.C.;McNeill, Jr., W.E.: A mobile automatic test system (MATS) for research aircraft instrumentation (24-43). -- Synadinos, K.G.: In-circuit testing: analysis of empirical information (44-53)


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    Titel :

    Proc. Automated testing for electron. manufacturing seminar exhibit, June 16-19, 1980, Boston, USA (Ate system technology)


    Weitere Titelangaben:

    Tagungsberichte des Seminars mit Ausstellung ueber automatisches Pruefen in der Fertigung elektronischer Komponenten, 16.-19. Juni 1980, Boston, USA (Systemtechnologie der Testautomaten)


    Erscheinungsdatum :

    1980


    Format / Umfang :

    53 Seiten


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch