Loose, R.H.: Wiring verification test of electronic switching systems: A host controlled, multiple facility, data distribution system (1-14). -- Goodson, R.M.: Semiconductor screening - a primer (15-23). -- Eppel, J.C.;McNeill, Jr., W.E.: A mobile automatic test system (MATS) for research aircraft instrumentation (24-43). -- Synadinos, K.G.: In-circuit testing: analysis of empirical information (44-53)
Proc. Automated testing for electron. manufacturing seminar exhibit, June 16-19, 1980, Boston, USA (Ate system technology)
Tagungsberichte des Seminars mit Ausstellung ueber automatisches Pruefen in der Fertigung elektronischer Komponenten, 16.-19. Juni 1980, Boston, USA (Systemtechnologie der Testautomaten)
1980
53 Seiten
Aufsatz (Konferenz)
Englisch
Engineering Index Backfile | 1925