Zur Ueberpruefung der Qualitaet von Bauelementen, die in Satelliten Verwendung finden, wurde ein umfangreiches Testprogramm durchgefuehrt an 266 Komponenten, bestehend aus 75 Transistoren, 30 Dioden, 19 Metallfilmwiderstaenden, 19 gewickelten Drahtwiderstaenden, 34 keramischen Kondensatoren, 10 Glaskondensatoren, 8 Tantalkondensatoren, 5 variablen Kondensatoren sowie Filtern und Spulen. Untersucht wurden die aeusseren Anschluesse, die Richtigkeit der Typenkennzeichnung, die elektrischen Eigenschaften, die Dichtigkeit der Gehaeuse, und nach dem Entfernen der Gehaeuse wurden mit dem Mikroskop Risse, Kratzer und andere mechanische Fehler gesucht. Die Qualitaet der leitenden Verbindungen wurde ueberprueft und die Bruchfestigkeit wurde bestimmt. Ein grosser Teil der Bauelemente musste beanstandet werden wegen schlechter Metallisierungen, zu grosser mechanischer Toleranzen usw.


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    Titel :

    Physical analysis of electronic components destined for satellite use


    Weitere Titelangaben:

    Physikalische Analyse von elelektronischen Komponenten fuer Satellitenanwendungen


    Beteiligte:
    Roberts, B.C. (Autor:in) / Baxter, N.E. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1975


    Format / Umfang :

    11 Seiten, 27 Bilder


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





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