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    Titel :

    Investigation of failure mechanisms in silicon based half cells during the first cycle by micro X-ray tomography and radiography



    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2016




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher / 52.57 Energiespeicherung
    Lokalklassifikation TIB:    645/5625



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