Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Determination of the interdiffusion coefficient for the CdS-CdTe heteroestructure by AES sputter depth profiling




    Erscheinungsdatum :

    2006



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher / 52.52 Thermische Energieerzeugung, Wärmetechnik / 52.56 Regenerative Energieformen, alternative Energieformen / 50.70 Energie: Allgemeines



    Laser-stimulated interdiffusion of components in a CdTe-CdxHg1-x Te structure

    Bychkov, Yu. A. / Mirzoyev, F. K. / Panchenko, Vladislav Y. | SPIE | 1990



    A silt-salinity-depth profiling instrument

    Shepherd, I.E. | Tema Archiv | 1979


    Measuring Interdiffusion in Binary Liquids

    Gelles, S. H. / Markworth, A. J. | NTRS | 1982