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    Titel :

    Modelling bottom and topside electron density and TEC with profile data from topside ionograms



    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2001



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt



    Klassifikation :

    BKL:    55.60 Raumfahrttechnik / 50.93 / 55.60 / 50.93 Weltraumforschung



    Modelling Bottom and Topside Electron Density and TEC With Profile Data From Topside Ionograms

    Nava, B. / Radicella, S. M. / Pulinets, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    The analysis of topside ionograms

    Jackson, J. E. | NTRS | 1967


    The Analysis of Topside Ionograms

    J. E. Jackson | NTIS | 1967


    Deducing Topside Profiles and Total Electron Content From Bottomside Ionograms

    Reinisch, B. W. / Huang, X. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Computation of topside ionograms from N(h) profiles

    Colin, Lawrence / Chan, Kwok-Long / Lee, Jack G. K. | TIBKAT | 1969