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    Titel :

    NASA GSFC EEE Parts Failure Analysis: Isolating Integrated Circuit Electrical Damage


    Beteiligte:
    Eric Galloway (Autor:in)

    Kongress:

    2024 NEPP Electronics Technology Workshop (ETW) ; 2024 ; Greenbelt, MD, US


    Erscheinungsdatum :

    2024-06-03


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch