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    Titel :

    Utilizing Focused Ion Beam (FIB) and Transmission Electron Microscopy (TEM) for Failure Analysis of Char Deposits Obtained from Space Shuttle Columbia Window Debris


    Beteiligte:
    Wright, M. Clara (Autor:in) / McDaniels, Steve (Autor:in) / Christoffersen, Roy (Autor:in) / Rahman, Zia (Autor:in)

    Kongress:

    Microscopy and Microanalysis 2011 Meeting ; 2011 ; Nashville, TN, United States


    Erscheinungsdatum :

    2011-08-10


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch